日本OLYMPUS（奧林巴斯）　OLS4500納米檢測顯微鏡

型號：OLS4500納米檢測顯微鏡

品牌：日本OLYMPUS（奧林巴斯）

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日本OLYMPUS（奧林巴斯）

“將社會價值引入公司內部”這個是奧林巴斯企業的管理哲學。作為一名社會的成員，奧林巴斯在處理與個體關系中扮演著重要的作用。因此，奧林巴斯采納了將社會價值引入公司內部，接受社會價值觀作為其商業思想的重要組成部分。自從那時，奧林巴斯明確了自己的位置，主要是一個相機生產商和發達的胃內照相...[查看更多]

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美國OLYMPUS OLS4500納米檢測顯微鏡由愛儀器儀表網代理，本產品是可以實現從50倍到*高100萬倍的超大范圍的觀察和測量的納米檢測顯微鏡，現在熱賣中，如需購買，可通過ai1718.com的客服熱線聯系我們!

產品簡介：
?OLS4500是一款集成了激光顯微鏡和探針掃描顯微鏡功能于一體的新型納米檢測顯微鏡，可以實現從50倍到*高100萬倍的超大范圍的觀察和測量
?實現納米級觀測的新型顯微鏡，不會丟失鎖定的目標
?縮短從放置樣品到獲取影像的工作時間
?一體機的機型，所以無需重新放置樣品只要在1臺裝置上切換倍率、觀察方法*能夠靈活應對新樣品
?使用光學顯微鏡的多種觀察方法，迅速找到觀察對象
?使用激光顯微鏡，可以觀察到光學顯微鏡中難以觀察到的樣品影像
?實現了無縫觀察，不會丟失觀察對象
?迅速發現觀察對象，在SPM上正確完成觀察
?簡單操作，可以迅速獲得測量結果
?使用向導功能，自由放大SPM影像
?優異的分析功能，應對各種測量目的

產品特點：
?配有涵蓋了低倍觀察到高倍觀察的4種物鏡，并在電動物鏡轉換器上裝配了SPM單元
?可以無縫切換倍率和觀察方法，不會丟失觀察對象
?此外，該款顯微鏡可以進行納米級觀測
?涵蓋了低倍到高倍觀察，并配有多種觀察方法可以迅速發現觀察對象
?可以完成低倍到高倍的大范圍倍率觀察
?不僅如此，先進光學技術打造的光學顯微鏡帶來多種觀察方法，可以容易的發現觀察對象
?對于光學顯微鏡難以找到的觀察對象，還可以使用激光顯微鏡進行觀察。在激光微分干涉（DIC）
?觀察中，可以進行納米級微小凹凸的實時觀察
?放置好樣品后，所有的操作都在1臺裝置上完成
?可以迅速，正確的把觀察對象移到SPM顯微鏡下面，所以只要掃描1次*能獲取所需的SPM影像
?OLS4500是把光學顯微鏡、激光顯微鏡、探針顯微鏡融于一體的一體機，所以無需重新放置樣品，即可自由切換3種顯微鏡進行觀察和評價
?這3種顯微鏡各自持有優異的性能，所以能夠高效輸出*佳結果
?OLS4500采用了短波長405 nm的激光光源和高N.A.的專用物鏡，實現了優異的平面分辨率
?能以鮮明的影像呈現出光學顯微鏡中無法看到的觀察對象。在激光微分干涉（DIC）模式中還可以實時觀察納米級的微小凹凸
?跟從向導畫面的指示，可輕松操作的6種SPM測量模式
?裝配了激光掃描顯微鏡，靈活應對多種樣品
?采用了有著高N.A. 的專用物鏡和專用光學系統（能*大限度發揮405 nm 激光性能）
?LEXT OLS4500 可以*地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品
?高度分辨率10 nm，輕松測量微小輪廓
?可用于傳統的線粗糙度測量，也可用于信息量較多的面粗糙度測量
?從大范圍拼接影像中指定目標區域
?在面粗糙度測量中詳細掌握粗糙度的分布和特點
?多種觀察模式在影像中呈現表面形狀和物性

LSM部分	光源、檢出系統			光源：405 nm半導體激光、檢出系統：光電倍增管
	總倍率			108～17,280X
	變焦			光學變焦：1～8X
	測量	平面測量	重復性	100x : 3σn-1=0.02μm、50x：3σn-1=0.04μm、20x：3σn-1=0.1μm
		平面測量	正確性	測量值的±2%以內
		高度測量	方式	物鏡轉換器上下驅動方式
			行程	10mm
			內置比例尺	0.8nm
			移動分辨率	10nm
			顯示分辨率	1nm
			重復性	100x :σn-1= 0.012μm、50x：σn-1＝0.012μm、20x：σn-1＝0.04μm
			正確性	0.2+L/100 μm以下（L＝測量長度）
	彩色觀察部分		光源、檢出系統	光源：白色LED、檢出系統：1/1.8英寸200萬像素單片CCD
	彩色觀察部分		變焦	碼變焦：1～8X
	物鏡轉換器			6孔電動物鏡轉換器
	微分干涉單元			微分干涉滑片：U-DICR、內置偏振光片單元
	物鏡			明視場平面半消色差透鏡5X LEXT專用平面復消色差透鏡20X、50X、100X
	Z對焦部分行程			76 mm
	XY載物臺			100 x 100 mm（電動載物臺）
SPM部分			運行模式	接觸模式、動態模式、相位模式、電流模式、表面電位模式（KFM）、磁力模式（MFM）
			位移檢出系統	光杠桿法
			光源	659 nm半導體激光
			檢出設備	光電檢測器
			*大掃描范圍	X-Y：大 30 μm x 30 μm、Z：大 4.6 μm
			安裝微懸臂	在盒式微懸臂支架上一鍵安裝，使用微懸臂安裝位置調整專用工裝夾具預對位，更換支架時無需光學調整
系統			總重量	約440 kg（不包含電腦桌）
系統			I額定輸入	100－120 V/220－240 V、600 VA、50/60 Hz

物鏡規格
型號	倍率	視場	工作距離（W.D.）	數值孔徑（N.A.）
MPLFLN5X	108-864X	2,560-320μm	20.0mm	0.15
MPLAPON20XLEXT	432-3,456X	640-80μm	1.0mm	0.60
MPLAPON50XLEXT	1,080-8,640X	256-32μm	0.35mm	0.95
MPLAPON100XLEXT	2,160-17,280X	128-16μm	0.35mm	0.95

微懸臂規格
用途	型號	類型	探針數量	微懸臂		探針		材質	金屬膜涂層
用途	型號	類型	探針數量	共振頻率 (kHz)	彈簧常數 (N/m)	高度 (μm）	前端半徑 (nm）	探針／微懸臂	探針涂層／反射涂層
動態模式／相位模式	OMCL-AC160TS-C3	標準硅膠	24	300	26	14	7	Si / Si	無 / Al
	OMCL-AC160BN-A2	高縱橫比硅膠	12	300	42	9	8	Si / Si	無／無
	OMCL-AC240TS-C3	低彈簧常數硅膠	24	70	2	14	7	Si / Si	無／Al
接觸模式	OMCL-TR800PSA-1	標準氮化硅	34	73 / 24	0.57 / 0.15	2.9	15	SiN / SiN	無／Au
表面電位模式	OMCL-AC240TM-B3	電氣測量專用硅膠	18	70	2	14	15	Si / Si	Pt/Al