日本OLYMPUS（奧林巴斯）　USPM-RU-W?近紅外顯微分光測定儀

型號：USPM-RU-W?近紅外顯微分光測定儀

品牌：日本OLYMPUS（奧林巴斯）

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日本OLYMPUS（奧林巴斯）

“將社會價值引入公司內部”這個是奧林巴斯企業的管理哲學。作為一名社會的成員，奧林巴斯在處理與個體關系中扮演著重要的作用。因此，奧林巴斯采納了將社會價值引入公司內部，接受社會價值觀作為其商業思想的重要組成部分。自從那時，奧林巴斯明確了自己的位置，主要是一個相機生產商和發達的胃內照相...[查看更多]

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美國OLYMPUS USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀由愛儀器儀表網代理，本產品是可以高速高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大范圍波長的近紅外顯微分光測定儀，現在熱賣中，如需購買，可通過ai1718.com的客服熱線聯系我們!

產品簡介：
?從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現大范圍波長區域中的分光測定
?奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大范圍波長的分光測定
?由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率
?*適用于光學元件與微小的電子部件等產品
?使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定
?測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率
?測定入射角為45度的反射率（選配）
?*適用于測定細小部件、鏡片的反射率
?測定反射率時，不需要背面防反射處理
?可選擇的膜厚測定方法
?高速、高精度地應對多樣化測定需求

產品特點：
?活用反射率數據，測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚
?根據反射率數據顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關數值
?從受臺下部透過?2mm的平行光，測定平面樣品的透過率
?使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現高速測定
?新設計了可以在?17~70μm的測定區域中進行非接觸測定的專用物鏡
?通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現再現性很高的測定
?將專用物鏡與環形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理，*可測定*薄0.2mm的反射率
?使用40×物鏡時，在本公司的測定條件下進行測定
?通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率，進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定
?適用于LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定
?適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定
?適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產生的反射率測定

	反射率測定			透過率測定	45度反射測定
名稱	近紅外顯微分光測定儀			近紅外顯微分光測定儀用透過測定選配件	近紅外顯微分光測定儀用 45度反射測定選配件
型號	USPM-RU-W
測定波長	380～1050nm
測定方法	對參照樣品的比較測定			對*基準的透過率測定	對參照樣品的比較測定
測定范圍	參照下列對物鏡的規格			約?2.0mm
測定再現性（3σ）	反射率測定	使用10×、20×物鏡時	±0.02[%]以下（430-1010nm） ±0.2[%]以下（上述以外）	±1.25[%]以下（430-1010nm） ±5.0[%]以下（左側記載除外）
		使用40×物鏡時	±0.05[%]以下（430-950nm） ±0.5[%]以下（上述以外）
	厚膜測定	±1%		--
波長顯示分解能	1nm
照明附件	專用鹵素燈光源　 JC12V 55W（平均壽命700h）
位移受臺	承載面尺寸：200(W)×200(D)mm　　承重：3 kg 工作范圍：(XY) ±40mm, (Z)125mm
傾斜受臺	--			承載面尺寸：　140(W)×140(D)mm 承重：　1 kg 工作范圍：(XT) ±1°, (YT) ±1°
裝置質量	主體：約26 kg（PC除外）			主體：約31 kg（PC除外）
	控制電源箱：約6.7kg
裝置尺寸	主體部位：360(W)×446(D)×606(H)mm			主體部位：360(W)×631(D)×606(H)mm
	控制電源箱：250(W)×270(D)×125(H)mm
電源規格	輸入規格：100-240V (110VA) 50/60Hz
使用環境	水平無振動的場所溫度：15～30℃ 濕度：15～60％RH（無結露）

對物鏡
型號	USPM-OBL10	USPM-OBL20	USPM-OBL40
倍率	10x	20x	40x
NA	0.12	0.24	0.24
測定范圍*4	70μm	34μm	17μm
工作距離	14.3mm	4.2mm	2.2mm
樣品的曲率半徑	±5mm～	±1mm～	±1mm～