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德國耶拿分析儀器股份公司（Analytik Jena AG, 簡稱AJ公司）成立于1990年，前身為卡爾.蔡司（Carl-Zeiss Jena GmbH）公司的分析儀器部，今天已成為德國知名的分析儀器公司之一。公司總部設在世界光學精密儀器制造中心的德國耶拿(Jena)市。目前...[查看更多]
| 原理 | 實時雙光束光譜系統 |
| 光學部件 | PELTIER 冷卻式雙檢測器技術，即CCD檢測器 |
| 光源 | 氘燈和鹵素燈，軟件自動切換 |
| 大樣品倉 | 方便使用及聯接各種附件 |
| 波長范圍 | 190nm---1100 nm |
| 光譜帶寬 | 0.5、1、2 和 4 nm，四檔可調 |
| 光度測量和顯示范圍 | - 4—4A |
| 波長*度 | +/- 0.1 nm （656 nm） |
| 波長重現性 | + /- 0.02nm |
| 散射光 |
340nm 時小于0.02% (NaNO2 ) 220nm時小于0.005% (NaI ) |
| 長時穩定性 | +/- 0.0005A/h （@ 500nm） |
| 基線穩定性 | 小于0.0001（RMS） |
| 掃描速率 | 12000nm/min |
專業從事儀器儀表檢修9年，部分可提供服務的產品型號如下：
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